| NO. | Densità della scanalatura (l/mm) | Gamma spettrale (nm) | Lunghezza d'onda della fiammata o di picco (nm) | Area governata (H×W, mm²) |
|
JY4-004 |
1800 |
190-1000 |
250 |
25×25&50×50 |
Per le applicazioni laser e spettroscopiche UV-visibili che richiedono una combinazione equilibrata di alta risoluzione, bassa luce diffusa e ampia copertura spettrale-come spettroscopia UV-per scopi generici, regolazione laser e strumentazione analitica-la scelta del reticolo è fondamentale per ottenere prestazioni ottimali del sistema. Jilin Juyao Technology Co., Ltd. (JYTEC) presenta i reticoli olografici riflettenti 1800 l/mm 250 nm, un reticolo di diffrazione olografico riflettente di alta qualità prodotto utilizzando tecniche avanzate di incisione ionica. Questo reticolo di riflessione olografico offre immagini prive di aberrazioni,-luce diffusa ultra-bassa ed elevata efficienza in tutto lo spettro UV-visibile, rendendolo la scelta ideale per un'ampia gamma di applicazioni spettroscopiche e laser.
Applicazione
Questoreticolo olografico riflettenteè il componente principale di un'ampia gamma di sistemi ottici avanzati:
- Spettrometri UV-visibile: Come precisionereticolo dello spettrometro, consente l'analisi ad alta-risoluzione delle transizioni atomiche e molecolari nella regione UV-visibile.
- Monocromatori: serve come-prestazioni elevatereticolo monocromatoreper sorgenti di luce UV regolabili, linee di luce di sincrotrone e strumenti di scansione spettrale.
- Spettroscopia Raman: L'estremamentebassa grata di luce diffusale caratteristiche lo rendono ideale perReticolo Ramanapplicazioni in cui è necessario rilevare deboli segnali Raman contro un forte scattering di Rayleigh.
- Compressione degli impulsi nei laser ultraveloci: Funziona come areticolo di compressione degli impulsinei sistemi di amplificazione degli impulsi cinguettati (CPA) per generare pochi impulsi UV a-cicli.
- Ispezione dei semiconduttori: utilizzato negli strumenti di ispezione dei wafer in cui le lunghezze d'onda UV forniscono la risoluzione necessaria per rilevare difetti su scala nanometrica-.
- Tomografia a coerenza ottica (OCT): Per utenti avanzatiReticolo OCTimplementazioni che richiedono elevata dispersione e basso rumore nella gamma UV-visibile.
- Chimica Analitica: essenziale per rilevatori HPLC, spettrometri ad assorbimento atomico e altri strumenti analitici che richiedono una spettroscopia UV-visibile affidabile.
Perché scegliere JYTEC come produttore di grigliati olografici?
- Produttore specializzato di grigliati olografici: Siamo un dedicatoproduttore di grigliato olograficosoluzioni, non un distributore. Le nostre capacità interne di incisione ionica e rivestimento--ci offrono il controllo completo su qualità, prestazioni e consegna.
- Funzionalità di reticolo olografico personalizzato: Serve ungriglia olografica personalizzatacon dimensioni, fiammatura o rivestimento non-standard? Il nostro team di ingegneri collabora strettamente con voi per lo sviluppoReticolo di diffrazione OEMsoluzioni che corrispondono esattamente ai vostri requisiti di sistema.
- Qualità comprovata per i mercati OEM e dei ricambi: se hai bisogno di volumi- elevatiReticolo di diffrazione OEMcomponenti o agriglia di ricambio per spettrometromanutenzione, ogni griglia è prodotta con gli stessi rigorosi standard qualitativi.
- Competenza in ricerca e sviluppo a livello nazionale-: Il nostro team comprende specialisti inreticolo di riflessione olograficaprogettazione e fabbricazione, garantendo che il vostro grigliato soddisfi le specifiche ottiche, meccaniche e ambientali più esigenti.
- Prototipazione rapida e servizio globale: Serviamo clienti in tutto il mondo con prototipazione rapida, supporto tecnico reattivo e logistica flessibile-dai grigliati di ricerca e sviluppo di-unità singole agli ordini su scala di produzione-.
Guida alla richiesta e configurazione personalizzata
Pronto a migliorare il tuo sistema spettroscopico UV o laser con un reticolo di diffrazione olografico riflettente di alta qualità? Contatta JYTEC oggi per discutere le tue esigenze specifiche, richiedere curve di efficienza o esplorare opzioni di reticolo olografico personalizzate su misura per la tua applicazione.
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